激光功率（或能量）是表征激光器重要的參數，主要的探測器類型有光電二極管，熱電堆探測器和熱釋電探測器。除此以外，特殊應用還有光電倍增管，雪崩二極管等。常見高功率激光器（YAG, CO2等）功率測量的主要設備就是熱電堆探測器。熱電堆探測器的主要優點是：高功率（uW-KW）及響應波段寬（紫外到>10um），響應范圍為整個紅外區域，室溫下工作，使用方便。而且整個響應區域，響應度曲線整體平整，隨波長變化不大，特別適用于寬波段光學測量。它的劣勢是響應速度慢，低功率（uW級）測量準確性不高。
熱電堆（Thermopile）探測器原理
熱電堆傳感器由兩種不同金屬連接在一起，是利用溫差電現象制成的一種器件，在熱端和冷端有溫差時，回路中會產生溫差電動勢，其數值與輻射量有關。激光功率照射熱電堆的導熱盤，測量出的溫度變化正比于入射的光功率。由于所有的熱量都可以被熱電堆吸收，檢測器的響應幾乎是獨立于激光光束大小和位置。Newport的探測器均勻性達到<±2%.
熱電堆盤類型（表面與體吸收結構）
沒有一種吸收體符合所有激光功率測量的需求。長脈沖（0.1-10ms）和連續波的吸收體，其特征是薄（一般為0.1µm）和耐火材料，因為在脈沖持續時間內，熱可以通過涂層進入到導熱盤。而測量短脈沖（<1us）的激光不能采用上述結構，所有的能量沉積在一個薄的表面層，這會導致導熱盤表面的破壞和蒸發。
熱電堆可以測量激光功率從幾十微瓦到千瓦不等。然而，導熱盤的測量范圍是有限的。如果兩種材料熱和冷的交界處的溫度差異超過幾十度，不斷加熱/冷卻會導致器件過早損壞。因此，為了適應不同的功率測量范圍，需要選擇不同厚度和大小的導熱盤，厚的用于高功率激光測量,薄的用于低功率。導熱盤的響應時間是取決于它們的大小和形狀：直徑較大和較厚的導熱盤比薄和小的導熱盤響應慢。
測量短脈沖激光時（幾十個微秒或甚至更短），熱沉積在短時間內不能流入導熱盤。因此，吸收的能量在一個薄的表面層是不合適的。在這種情況下，使用體吸收結構。中性密度玻璃吸收光的深度為1-3毫米而不是微米級。因此，即使短脈沖在沒有熱量流動，光和熱沉積到相當的深度，因此體吸收結構能夠承受更高的能量密度——達10焦耳/平方厘米。
高功率熱電堆探測器的標定方法和準確性
高功率（5KW）熱電堆探測器Newport 919P-5KW-50是使用相對較低功率的激光器150-300W進行標定。使用這樣的低功率激光進行標定，而當使用高功率測量時，就會讓人想到關于標定精度的問題。通過熱電堆探測器的工作原理可知，由于它是電壓產生裝置，因此電壓輸出必須是線性的。如果在低功率的校準是準確的，在高功率它將保持較高的準確性，919P-5KW-50的準確度在±5%以上。
使用熱電堆探測器來測量單脈沖能量
雖然熱電堆激光功率探測器主要用于測量功率，其實它還可測量單脈沖能量。由于導熱盤加熱和冷卻下來的時間通常是幾秒鐘，這種熱探測器只能測量每幾秒鐘一個的單一脈沖，因此它僅僅適用于所謂的“Single shot”的測量，而且測量的脈沖寬度是沒有限制的。
Newport 919P-020-12響應度曲線
響應范圍為整個紅外區域，且響應度隨波長變化極小。測試結果見下圖。
森泉為您的科研事業添磚加瓦：
1） 激光控制：激光電流源、激光器溫控器、激光器控制、伺服設備與系統等等
2） 探測器：光電探測器、單光子計數器、單光子探測器、CCD、光譜分析系統等等
3） 定位與加工：納米定位系統、微納運動系統、多維位移臺、旋轉臺、微型操作器等等
4） 光源：半導體激光器、固體激光器、單頻激光器、單縱模激光器、窄線寬激光器、光通訊波段激光器、CO2激光器、中紅外激光器、染料激光器、飛秒超快激光器等等
5） 光機械件：用于光路系統搭建的高品質無應力光機械件，如光學調整架、鏡架、支撐桿、固定底座等等
6） 光學平臺：主動隔振平臺、氣浮隔振臺、實驗桌、剛性工作臺、面包板、隔振、隔磁、隔聲綜合解決方案等等
7） 光學元件：各類晶體、光纖、偏轉鏡、反射鏡、透射鏡、半透半反鏡、濾光片、衰減片、玻片等等
8） 染料：激光染料、熒光染料、光致變色染料、光致發光染料、吸收染料等等
